壹倍科技高锦龙博士受邀出席2025 Micro LED产业大会：以全链条检测技术助力行业跨越量产门槛

    11月6日，2025第八届Micro LED显示技术和产业发展大会在昆山举行。本届大会由江苏省光电显示产业联盟、南京平板显示行业协会、中国光学光电子行业协会液晶分会、中国半导体照明/LED产业与应用联盟、台湾显示器产业联合总会主办，维信诺科技股份有限公司、友达光电（昆山）有限公司等承办，以“智变赋能，创显未来”为主题，汇聚了500多位中外院士、政府领导、高校教授、行业专家及新型显示产业链企业高层。会上，百余位产业链中下游核心企业代表围绕Micro LED量产及规模化应用等产业核心议题展开深入探讨，共同为新型显示技术的创新发展与产业升级贡献智慧。

    深圳市壹倍科技有限公司（简称“壹倍科技”）创始人兼总经理高锦龙博士受邀出席大会，发表了题为“Micro-LED工艺与检测技术的发展”的主题演讲。他指出，随着产业从技术验证迈向规模化量产，检测技术已成为提升良率、降低成本的关键环节。针对巨量转移和单片集成两大主流技术路线，壹倍科技自主研发了PL巨量检测、芯片位移量测以及外延缺陷检测等核心设备，有效解决了芯片微小化带来的全检难题。通过将检测环节前置，并融合多种技术和数据，壹倍科技构建了全链条良率管理体系，为行业跨越量产门槛提供了强有力的技术支撑。

    目前公司已服务全球60多家客户，检测样本类型达460余种，研发团队占比达70%，近期连续完成2轮亿级融资。高锦龙博士表示，壹倍科技将继续致力于Micro-LED检测技术的创新，为行业提供更先进的检测解决方案，助力显示产业实现规模化量产突破。

    在同期举行的高峰对话环节，高锦龙博士与香港工程学院院士刘纪美、群创光电技术开发中心协理杨秋莲、錼创科技董事长李允立等七位产学研领域的知名嘉宾，就Micro LED在应用场景拓展、量子点色转换技术、设备国产化进程、光互连通信以及背板材料创新等多个热点议题展开了深入交流。围绕技术路线选择、产业链协同优化、成本控制策略以及人才培养机制等行业关键挑战，嘉宾们分享了宝贵的前沿洞察与实践经验。

    在相关议题讨论中，针对Micro LED工艺制程检测挑战与壹倍科技突破，高锦龙博士表示：随着产业迈向大规模制造，检测技术面临三大挑战——巨量转移基板尺寸增大对设备自动化与稳定性要求提高、芯片电性不良尚无法全检、AR微显示场景的外延缺陷检测精度要求极高。壹倍科技自2022年发布国内首台PL巨量检测设备以来，陆续推出晶圆面板AOI量测、外延无图形缺陷检测等设备，基本实现全链条检测覆盖。未来，还将推出G4.5代AOI量测、新一代PL及AR微显示专用PL检测设备。谈及市场布局与两岸合作，高博士称：壹倍科技已于2024年向台湾客户出机PL设备。两岸产业互补性强，台湾企业技术积累深、产品化能力强，大陆则具备供应链与规模化优势，近年来合作日益紧密，潜力巨大。

    大会在热烈的氛围中圆满落幕。本届大会生动展现了Micro LED等新型显示技术在全产业链协同努力下所取得的显著进展，它们正以“屏”步青云的姿态，不断突破量产与应用的瓶颈。作为产业中的一员，壹倍科技始终积极投身于这场技术变革浪潮，深耕Micro LED检测领域，为大会呈现诸多前沿理念与解决方案。此次盛会不仅为壹倍科技提供了与行业顶尖力量交流合作的宝贵契机，更进一步推动了公司与全产业链伙伴的深度融合。展望未来，中国新型显示产业更广阔、更富想象力的“出圈”未来正在到来，壹倍科技定将携手各方，共同书写产业发展的新篇章。